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          斯坦德

          東莞斯坦德儀器設備有限公司
          有毒有害物質 材料成份分析 可靠信賴性 環境安全

          服務熱線:
          0769-23367099

          SEM+EDS掃描電子顯微鏡

          SEM+EDS掃描電子顯微鏡

          產品詳情

          In Touch Scope JSM-6010PLUS/LA 分析型掃描電子顯微鏡
          主要特長
          ***電子光學系統                                                             In Touch Scope JSM-6010PLUS/LA是日本電子株式會社***推出機型,沿襲日本電子的***電子光學系統,集合了分析掃描電鏡精髓功能,設計精簡自動化程度高。
          使用多點觸摸屏,操作舒適                                              In Touch Scope JSM-6010PLUS/LA通過多點觸控技術和***的操作軟件,操作直觀簡單。只需輕觸屏幕就能操控各種功能,舒適便捷。新開發的操作界面簡明易懂,即使是SEM新手也能輕松獲得高品質的SEM圖像,進行EDS元素分析。
          能適應各種環境的可移動式掃描電鏡                                             In Touch Scope掃描電鏡,在手邊的PC上就可以進行觀察和分析。只要移動觸摸屏,在遠離裝置的地方也能夠進行操作。(無線模式操作為選配件)。In Touch Scope主機用腳輪即可移動。
          標準配置EDS分析功能的分析型掃描電鏡                                          標準配置EDS分析功能的JSM-6010PLUS/LA,不僅能獲取高分辨率的圖像,在低真空模式下觀察非導電性樣品,還采用了無需液氮制冷的***EDS檢測器 (DRY SD),能夠進行定性分析、定量分析、元素面分布。此外,搭載的大型全對中形樣品臺可以對應各種樣品。
          JSM-6010PLUS/LA性能參數
          Main Performance on JSM-6010PLUS/LA
          Performance
          (一) 主要性能 
          HV Mode Resolution
          高真空模式分辨率 (SE像)   4.0nm @ 20KV   WD 8mm
          8.0nm @ 3KV    WD 6mm
          15.0nm  @ 1KV  WD 6mm
          LV Mode Resolution
          低真空模式分辨率 (BE像) 5.0nm @ 20KV  
          Magnification
          放大倍數                                                              ×8~×300,000 
          Detectors
          探測器 Secondary Electron Detector
          二次電子探測器
          ★Semiconductor Backscattered Electron Detector(patent)
          半導體型背散射電子探測器(專利技術)
          Image Mode
          圖像模式 Secondary Electron Image 
          二次電子圖像
          REF Image
          REF像
          Composition Image (Backscattered Electron Image)
          成份像 (背散射電子圖像) 
          Topography Image (Backscattered Electron Image)
          形貌像 (背散射電子圖像) 
          Shadow Image (Backscattered Electron Image)
          立體像 (背散射電子圖像) 
          Live Image Display
          實時圖像顯示 Dual Live Image Display, Split Live Image, 
          雙實時圖像同時顯示, 分割實時圖像顯示 
          Accelerating Voltage
          加速電壓 0.5KV ~ 20KV

          Low Vacuum Degree
          低真空度 10 to 100 Pa (Settable with graphic menu)
          (軟件控制菜單設定)
          Probe Current
          探針束流 1pA ~ 0.3uA
          Electron Optics
          (二) 電子光學系統 
          Filament
          燈絲                                     Factory pre-centered tungsten hairpin filament
          工廠預對中鎢燈絲
          ★Gun Bias Voltage
          電子槍偏壓 Seamless automatic bias
          無縫式自給偏壓, 連續調整
          Gun Alignment
          電子槍合軸 Auto alignment
          自動合軸
          Filament Heating
          燈絲加熱 Auto heating
          自動加熱
          ★Condenser Lens
          聚光透鏡                                 Two stage zoom type condenser lens – (patent)
          變焦聚光透鏡系統 – 專利技術
          ★Objective Lens
          物鏡 Super conical type objective lens
          超級錐形物鏡
          Objective Lens Aperture
          物鏡光闌 1 step, Fine position adjustment in X and Y directions
          1孔固定,可在X和Y方向微調
          Focus
          聚焦 Auto/Manual focus
          自動/手動聚焦
          Stigmator
          像散 Auto/Manual stigmator
          自動/手動消像散
          ★Stigmator Memory
          像散存儲器                               Standard,  Auto/Manual
          標準配置,自動/手動補償像散
          ★Electrical Image Shift
          圖像移動                                 X-Y , ±50um
          Specimen Stage
          (三) 樣品臺 
          Type
          樣品臺類型 Eucentric type stage 
          全對中樣品臺
          Traverse
          行程                                    
           X     :  80mm;
          Y     :  40mm;
          Z     :  5 ~ 48mm;
          傾斜 T:  -10 ~ +90°
          旋轉 R:  360°連續endless
          Maximum Specimen Size
          ***樣品尺寸 150mm diameter & 48mm height specimen can be inserted
          可裝直徑150mm高度為48mm的樣品
          Maximum Size of Observation
          ***觀察視野 125mm diameter
          直徑125mm
          Image Display
          (四) 圖形顯示 
          Pixels
          顯示像素 640×480,1280×960,2560×1920,5120×3840
          Image Process
          圖像處理 Averaging, Linear, Contrast, Gamma, Multi level, Patial enhance, Reverse, Pseudo color, Multi image
          平均值, 灰度修正, 反差增強, 偽彩, 二及四分屏, 2及4倍數碼變焦
          File Save
          文件存儲格式 BMP, TIFF, JPEG
          Operation System
          (五) 操作系統   
          PC
          計算機 23英寸觸摸屏式臺式電腦
          OS :  Windows 7 (英語版)
          Metrological function
          (六) 測量功能 
          Distance between parallel lines
          平行線間距測量 Horizontal, vertical, diagonal
          垂直, 水平, 對角
          Distance between 2 points
          2點之間距離測量 Distance between any 2 points
          任意2點間距離
          Circle
          圓的測量 Diameter
          直徑
          Distance between 2 circle centers (not supported by the touch-panel operation)
          2個圓中心間距離(觸摸屏操作下不支持此功能)
          Angle
          角度測量 Angle
          角度
          Area
          面積測量 Area of circles and polygons
          圓和多角形
          Count
          計數 Particle count
          顆粒計數
          Vacuum System
          (七) 真空系統 
          Ultimate Pressure
          真空度 HV mode 0.1mPa
          高真空模式 1×10-4Pa
          LV mode 1mPa(at the specimen chamber pressure 27Pa)
          低真空模式1×10-3Pa(當樣品室真空為27Pa時)
          Evacuation Time
          抽真空時間 HV mode 3 min

          Pump System
          真空泵系統                              One TMP, One RP
          一個分子泵, 一個機械泵
          Safety devices
          (七) 安全裝置 Power failure, Water failure, Pressure rise, Leak current
          斷電,斷水,泄壓,漏電保護
          Auto Function 
          (八) 自動功能 Auto gun control, Auto focus, Auto stigmator, Auto contrast and brightness
          自動電子槍控制,自動聚焦,自動消像散,自動反差和亮度
          Miscellaneous
          (九) 擴展接口 EDS 能譜儀、Chamber Scope紅外相機、Probe Current Detector束流監視器
          EDS Performance:
          (十)能譜儀主要性能 
          Detector
          探測器 Box SDD detector (no liquid nitrogen needed)
          電制冷方式Box SDD 探測器 – 不用液氮
          Effective area of detector
          探頭有效掃描面積 10 mm2
          Detector movement
          探測器移動 Fixed
          固定
          Resolution
          分辨率 129eV or better (55Fe, 5.9 keV, 1000 cps)
          Detectable element range
          元素分析范圍 B(5) to U(92)
          硼  至 鈾
          Window
          窗口 Atmospheric pressure-resistant, Ultra-thin film
          抗大氣壓的超薄窗
          X-ray take-off angle
          取出角 35°(WD:10mm)
          Cooling
          制冷方法 Peltier cooling
          Standard Function Built in
          標準搭載功能 Qualitative Analysis 定性分析
          Quantitative Analysis 定量分析
          Active Mapping 活區面分析
          Point Analysis   點分析
          Probe Tracking 束流追蹤


          暫無評價

          產品詳情

          In Touch Scope JSM-6010PLUS/LA 分析型掃描電子顯微鏡
          主要特長
          ***電子光學系統                                                             In Touch Scope JSM-6010PLUS/LA是日本電子株式會社***推出機型,沿襲日本電子的***電子光學系統,集合了分析掃描電鏡精髓功能,設計精簡自動化程度高。
          使用多點觸摸屏,操作舒適                                              In Touch Scope JSM-6010PLUS/LA通過多點觸控技術和***的操作軟件,操作直觀簡單。只需輕觸屏幕就能操控各種功能,舒適便捷。新開發的操作界面簡明易懂,即使是SEM新手也能輕松獲得高品質的SEM圖像,進行EDS元素分析。
          能適應各種環境的可移動式掃描電鏡                                             In Touch Scope掃描電鏡,在手邊的PC上就可以進行觀察和分析。只要移動觸摸屏,在遠離裝置的地方也能夠進行操作。(無線模式操作為選配件)。In Touch Scope主機用腳輪即可移動。
          標準配置EDS分析功能的分析型掃描電鏡                                          標準配置EDS分析功能的JSM-6010PLUS/LA,不僅能獲取高分辨率的圖像,在低真空模式下觀察非導電性樣品,還采用了無需液氮制冷的***EDS檢測器 (DRY SD),能夠進行定性分析、定量分析、元素面分布。此外,搭載的大型全對中形樣品臺可以對應各種樣品。
          JSM-6010PLUS/LA性能參數
          Main Performance on JSM-6010PLUS/LA
          Performance
          (一) 主要性能 
          HV Mode Resolution
          高真空模式分辨率 (SE像)   4.0nm @ 20KV   WD 8mm
          8.0nm @ 3KV    WD 6mm
          15.0nm  @ 1KV  WD 6mm
          LV Mode Resolution
          低真空模式分辨率 (BE像) 5.0nm @ 20KV  
          Magnification
          放大倍數                                                              ×8~×300,000 
          Detectors
          探測器 Secondary Electron Detector
          二次電子探測器
          ★Semiconductor Backscattered Electron Detector(patent)
          半導體型背散射電子探測器(專利技術)
          Image Mode
          圖像模式 Secondary Electron Image 
          二次電子圖像
          REF Image
          REF像
          Composition Image (Backscattered Electron Image)
          成份像 (背散射電子圖像) 
          Topography Image (Backscattered Electron Image)
          形貌像 (背散射電子圖像) 
          Shadow Image (Backscattered Electron Image)
          立體像 (背散射電子圖像) 
          Live Image Display
          實時圖像顯示 Dual Live Image Display, Split Live Image, 
          雙實時圖像同時顯示, 分割實時圖像顯示 
          Accelerating Voltage
          加速電壓 0.5KV ~ 20KV

          Low Vacuum Degree
          低真空度 10 to 100 Pa (Settable with graphic menu)
          (軟件控制菜單設定)
          Probe Current
          探針束流 1pA ~ 0.3uA
          Electron Optics
          (二) 電子光學系統 
          Filament
          燈絲                                     Factory pre-centered tungsten hairpin filament
          工廠預對中鎢燈絲
          ★Gun Bias Voltage
          電子槍偏壓 Seamless automatic bias
          無縫式自給偏壓, 連續調整
          Gun Alignment
          電子槍合軸 Auto alignment
          自動合軸
          Filament Heating
          燈絲加熱 Auto heating
          自動加熱
          ★Condenser Lens
          聚光透鏡                                 Two stage zoom type condenser lens – (patent)
          變焦聚光透鏡系統 – 專利技術
          ★Objective Lens
          物鏡 Super conical type objective lens
          超級錐形物鏡
          Objective Lens Aperture
          物鏡光闌 1 step, Fine position adjustment in X and Y directions
          1孔固定,可在X和Y方向微調
          Focus
          聚焦 Auto/Manual focus
          自動/手動聚焦
          Stigmator
          像散 Auto/Manual stigmator
          自動/手動消像散
          ★Stigmator Memory
          像散存儲器                               Standard,  Auto/Manual
          標準配置,自動/手動補償像散
          ★Electrical Image Shift
          圖像移動                                 X-Y , ±50um
          Specimen Stage
          (三) 樣品臺 
          Type
          樣品臺類型 Eucentric type stage 
          全對中樣品臺
          Traverse
          行程                                    
           X     :  80mm;
          Y     :  40mm;
          Z     :  5 ~ 48mm;
          傾斜 T:  -10 ~ +90°
          旋轉 R:  360°連續endless
          Maximum Specimen Size
          ***樣品尺寸 150mm diameter & 48mm height specimen can be inserted
          可裝直徑150mm高度為48mm的樣品
          Maximum Size of Observation
          ***觀察視野 125mm diameter
          直徑125mm
          Image Display
          (四) 圖形顯示 
          Pixels
          顯示像素 640×480,1280×960,2560×1920,5120×3840
          Image Process
          圖像處理 Averaging, Linear, Contrast, Gamma, Multi level, Patial enhance, Reverse, Pseudo color, Multi image
          平均值, 灰度修正, 反差增強, 偽彩, 二及四分屏, 2及4倍數碼變焦
          File Save
          文件存儲格式 BMP, TIFF, JPEG
          Operation System
          (五) 操作系統   
          PC
          計算機 23英寸觸摸屏式臺式電腦
          OS :  Windows 7 (英語版)
          Metrological function
          (六) 測量功能 
          Distance between parallel lines
          平行線間距測量 Horizontal, vertical, diagonal
          垂直, 水平, 對角
          Distance between 2 points
          2點之間距離測量 Distance between any 2 points
          任意2點間距離
          Circle
          圓的測量 Diameter
          直徑
          Distance between 2 circle centers (not supported by the touch-panel operation)
          2個圓中心間距離(觸摸屏操作下不支持此功能)
          Angle
          角度測量 Angle
          角度
          Area
          面積測量 Area of circles and polygons
          圓和多角形
          Count
          計數 Particle count
          顆粒計數
          Vacuum System
          (七) 真空系統 
          Ultimate Pressure
          真空度 HV mode 0.1mPa
          高真空模式 1×10-4Pa
          LV mode 1mPa(at the specimen chamber pressure 27Pa)
          低真空模式1×10-3Pa(當樣品室真空為27Pa時)
          Evacuation Time
          抽真空時間 HV mode 3 min

          Pump System
          真空泵系統                              One TMP, One RP
          一個分子泵, 一個機械泵
          Safety devices
          (七) 安全裝置 Power failure, Water failure, Pressure rise, Leak current
          斷電,斷水,泄壓,漏電保護
          Auto Function 
          (八) 自動功能 Auto gun control, Auto focus, Auto stigmator, Auto contrast and brightness
          自動電子槍控制,自動聚焦,自動消像散,自動反差和亮度
          Miscellaneous
          (九) 擴展接口 EDS 能譜儀、Chamber Scope紅外相機、Probe Current Detector束流監視器
          EDS Performance:
          (十)能譜儀主要性能 
          Detector
          探測器 Box SDD detector (no liquid nitrogen needed)
          電制冷方式Box SDD 探測器 – 不用液氮
          Effective area of detector
          探頭有效掃描面積 10 mm2
          Detector movement
          探測器移動 Fixed
          固定
          Resolution
          分辨率 129eV or better (55Fe, 5.9 keV, 1000 cps)
          Detectable element range
          元素分析范圍 B(5) to U(92)
          硼  至 鈾
          Window
          窗口 Atmospheric pressure-resistant, Ultra-thin film
          抗大氣壓的超薄窗
          X-ray take-off angle
          取出角 35°(WD:10mm)
          Cooling
          制冷方法 Peltier cooling
          Standard Function Built in
          標準搭載功能 Qualitative Analysis 定性分析
          Quantitative Analysis 定量分析
          Active Mapping 活區面分析
          Point Analysis   點分析
          Probe Tracking 束流追蹤


          SEM+EDS掃描電子顯微鏡
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